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CONFIG_DIGITAL_WELDING_INTERFACE_TEST
이 구조체는 용접 테스트 및 보조 작업용 디지털 I/O 매핑을 정의합니다. 가스 테스트, 인칭 제어, 토치 블로우아웃, 시뮬레이션, 선택적 사용자 정의 테스트 신호에 쓰는 디지털 채널을 구성합니다. 각 필드는 CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA로 정의합니다.
BYTE# |
필드 이름 |
자료형 |
값 |
비고 |
|---|---|---|---|---|
0 |
|
가스 테스트 설정의 디지털 매핑 |
||
15 |
|
와이어 인칭(+) 설정의 매핑 |
||
30 |
|
와이어 인칭(−) 설정의 매핑 |
||
45 |
|
토치 블로우아웃 설정의 디지털 매핑 |
||
60 |
|
용접 시뮬레이션 모드의 디지털 매핑 |
||
75 |
|
선택적 테스트 신호 1 설정 |
||
90 |
|
선택적 테스트 신호 2 설정 |
전체 크기: 105바이트
정의 위치: DRFS.h
typedef struct _CONFIG_DIGITAL_WELDING_INTERFACE_TEST
{
/* 가스 테스트 디지털 매핑 */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tGasTest;
/* 인칭 정방향(와이어 송급 +) */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tInchingP;
/* 인칭 역방향(와이어 후퇴 −) */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tInchingM;
/* 토치 블로우아웃 동작 */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tBlowOutTorch;
/* 용접 시뮬레이션 모드 매핑 */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tSimulation;
/* 선택 테스트 신호 1 */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tTSopt1;
/* 선택 테스트 신호 2 */
CONFIG_DIGITAL_WELDING_IF_MAPPING_DATA _tTSopt2;
} CONFIG_DIGITAL_WELDING_INTERFACE_TEST, *LPCONFIG_DIGITAL_WELDING_INTERFACE_TEST;
참고
이 구조체는 디지털 용접 시스템의 수동 테스트 및 설정 기능을 관리합니다.
_tInchingP와_tInchingM은 설정 중에 와이어를 수동으로 제어할 때 반드시 필요합니다._tSimulation을 사용하면 실제로 아크를 점화하지 않고 I/O 통신을 검증할 수 있습니다.선택 필드
_tTSopt1과_tTSopt2는 사용자 정의 디지털 테스트 신호로 바꿔 쓸 수 있습니다.